报告摘要：小角X射线散射(SAXS)技术是表征纳米材料微观结构的一种重要手段.当X射线穿过材料时，在材料不均一的电子云密度分布作用下，发生散射并形成特定的散射图案，使得我们可以根据特定的模型来反推材料的微观结构，并计算相关结构参数.本报告简述了SAXS技术的基本理论和仪器实际操作过程中的注意事项，并结合实验室样品及市场产品实例，概述可用SAXS技术表征的微观结构和表征结果.

报告人简介：宋良益，男，1994年出生，现任Xenocs China应用工程师。2017年在兰州大学物理系获学士学位，2022年在中科院上海应用物理研究所（上海同步辐射光源）获博士学位。